实验室成员参加SIEMME’22国际会议

       2016年9月22-24日，张骐、周兴和Hafeez参加了在苏州举办的The 22th China-Japan Bilateral Symposium on Intelligent Electrophotonic Materials and Molecular Electronics (SIEMME’22)国际会议，会议上张骐做了题为“In situ characterizations of low-dimensional optoelectronic structures”的邀请报告，周兴做了题为“Ultrathin SnSe₂ flakes grown by chemical vapor deposition for high performance photodetectors”的口头报告，Hafeez做了题为“Rhenium dichalcogenides (ReX₂; X= S, Se): an emerging class of TMDCs family”的口头报告，并得到了国际同行的认可。