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张骐和周兴参加5th IC4N国际会议

发布时间:2016-07-05来源: 编辑:

2016626-30日,张骐和周兴参加了在希腊举办的5th International Conference from Nanoparticles and Nanomaterials to Nanodevices and Nanosystems国际会议,会议上张骐做了题为“In situ characterizations of low-dimensional optoelectronic structures”的邀请报告,周兴做了题为“Ultrathin SnSe2 flakes grown by chemical vapor deposition for high performance photodetectors”的墙报,得到了国际同行的认可

 

 

 

Stathis I. Meletis,教授,美国德州大学阿灵顿分校,材料科学与工程系主任,担任此次会议主席。(图左)